2023年10月16日上午，哈尔滨工业大学电器与电子可靠性研究所在科技创新大厦J922会议室组织了博士生郑博恺的博士学位论文答辩会。

本次答辩委员会委员包括福州大学电气工程与自动化学院许志红教授、哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院王高林教授、徐英教授、吕超教授、叶雪荣教授、杨文英教授、哈尔滨工业大学电子与信息工程学院刘大同教授。研究所部分博士研究生和硕士研究生列席旁听了本次答辩。

会议伊始，由答辩秘书陈岑副教授宣读答辩人的基本情况，介绍答辩委员会成员信息。随后，答辩委员会主席王高林教授宣布答辩开始，由博士生郑博恺介绍其博士论文工作的主要研究内容和创新性成果。

图1 博士生郑博恺答辩现场

在答辩过程中，答辩委员会分别针对论文外审评议意见、答复情况以及博士论文中的问题进行了提问，包括贮存可靠性评估方法通用性和适用性、加速贮存退化试验优化设计与后续研究的关联性等，郑博恺同学对上述提问逐一进行认真答复，并针对论文存在的不足之处与委员会讨论明确了修改方案。

提问环节结束后，答辩会主席王高林教授组织召开单独评议会，对郑博恺同学博士论文的理论水平、创新性等进行了评议。委员会一致认为，郑博恺同学的博士论文结构合理、叙述清晰、理论分析深入、数据可信、结论正确，且在答辩中正确地回答了委员们提出的问题，论文达到了国家学位条例对博士学位论文的要求。最终，委员会7名委员一致投票通过郑博恺同学的博士学位论文答辩，同意其毕业，并建议授予工学博士学位。

图2 答辩合影留念

博士学位论文摘要：

电子单机是由元器件通过导线连接组成的板级电路系统，作为导弹、鱼雷等武器装备中的基本组成，主要完成能量供给、信号传递、系统控制等功能。在贮存环境的长期综合作用下，电子单机的性能表征参数会发生退化，当其超出允许的容差范围时电子单机无法完成指定任务，继续使用会对所在的武器装备造成无可挽回的灾难性后果。因此，如何准确评估电子单机的贮存可靠性是保障武器装备可靠使用的关键。

然而，现有的贮存可靠性评估方法难以准确评估电子单机贮存可靠性，究其原因，一方面是现有的退化及可靠性模型难以准确描述电子单机贮存退化及其观测过程中存在的多源不确定性；另一方面是电子单机造价昂贵、批次产品数量少，难以在短时间内获取足量的贮存退化信息。相较于电子单机，其组成元器件成本低、批次产品数量多，其中蕴含着大量电子单机的贮存可靠性信息。

受此启发，本文充分考虑电子单机及其组成元器件贮存退化及其观测过程中存在的多源不确定性，通过研究元器件贮存退化建模、元器件加速贮存退化试验优化设计、考虑多性能表征参数退化相关的电子单机贮存可靠性评估建模、基于模型融合的电子单机贮存可靠性评估等方法，完成了元器件加速贮存退化试验方案的合理制定，构建了包含元器件加速贮存退化试验优化、元器件贮存退化、电子单机仿真、电子单机贮存可靠性评估等模型在内的模型体系，实现了器件级贮存退化信息向单机级贮存可靠性信息的转换，形成了一套能够准确评估各类型电子单机贮存可靠性的通用方法。

 

感谢郑博恺同学对研究所做出的贡献，祝愿郑博恺在新的工作岗位再创辉煌！