一、报告人简介：

        纪辰松，电气学院电气与电子可靠性研究所2022级硕士研究生，导师为周学副教授，研究方向为电容可靠性预计。

二、报告内容简介：

       1.参加人员：杨文英老师及组内硕博研究生15人

       2.会议的主要内容等：首先介绍了多层瓷介电容的失效机理和失效分析方法，然后从加速退化试验设计，退化可靠性建模和退化数据分析三个方面介绍了加速退化数据建模的过程。

三、讨论内容：

       1.讨论内容：会议就加速退化数据建模的具体过程进行了讨论，具体讨论了三种加速退化试验和四种加速退化建模方法的内容以及每种方法的适用情况。  

       2.杨老师提出，在讲基于随机过程的可靠性建模时，可以具体把每种方法的应用实例、优缺点等具体用表格列出来，这样在讲解时更加简单明了。

四、需要完善、改进的地方：

1.对于加速退化建模方面，应该结合实例讲解每种建模方法的具体应用场景。

2.对于电容生产工艺对可靠性建模的影响应该进一步探讨。

五、会议现场：

                                                        

 

六、国内外相关技术前沿：

          [1] 赵靖英,张珂,刘建猛.基于加速应力试验的钽电容性能退化分析与建模研究[J].仪器仪表学报,2021,42(07):177-188.DOI:10.19650/j.cnki.cjsi.J2107730.

          [2] 王浩伟,滕克难.基于加速退化数据的可靠性评估技术综述[J].系统工程与电子技术,2017,39(12):2877-2885.

          [3] Liu D .A General Reliability Model for Ni-BaTiO3-Based Multilayer Ceramic Capacitors [C]// Capacitors and Resistors Technology Symposium (CARTS) 2014.2014.