一、报告人简介：

蒋威钧，电气学院电器与电子可靠性研究所2021级硕士研究生，导师为叶雪荣教授，研究方向是电子系统可靠性。

二、报告内容简介：

本次学术汇报主要参加人员有陈昊博士、胡义凡博士、孙祺森博士、代文鑫博士等。

报告主要介绍了基于Virtuoso平台下的数模混合电路仿真方法。首先简要介绍了仿真的平台以及数模信号的转换方法，然后提出了Verilog/VHDL-AMS+IBIS的方法对数字器件进行建模，并详细介绍了IBIS所包含的信息以及仿真的算法，之后结合通信单机的仿真电路对该方法进行了进一步说明。此外，报告中还介绍了在仿真中对器件的功能失效和性能退化进行模拟的方法，主要通过修改IBIS中的参数以及使用Verilog/VHDL-AMS建立功能失效和性能退化的模型来实现，并以通信单机电路中模拟部分为例应用了该方法。

三、讨论内容：

报告结束后，主要针对数模信号转换、IBIS仿真算法以及功能失效和性能退化的实现方法等方面进行了激烈的讨论。

胡义凡博士对数字部分与模拟部分功能失效和性能退化的仿真提出了改进意见；陈昊博士对数模信号转换方式提出了改进意见。

四、需要完善、改进的地方：

1.在原来模拟部分的基础上，进一步增加数字部分的功能失效与性能退化，并进一步分析哪个参数对电路影响更大。

2.查找更符合实际情况的数模信号转换方法。

五、会议现场：

                       

六、国内外相关技术前沿：

    [1]  WANG Y H, ZHAO H L, LI J J, et al. Analog Circuit Fault Simulation Approach Based on Pspice Engine; proceedings of the International Conference on Mechatronics, Electronic, Industrial and Control Engineering (MEIC), Shenyang, PEOPLES R CHINA, F Apr 01-03, 2015 [C]. 2015.

    [2]   WANG T, ZHANG H, ZHANG H, et al. Integrated Failure Model for Analog Circuit Simulation Based on Saber Platform; proceedings of the 3rd International Conference on Consumer Electronics, Communications and Networks (CECNet), Hubei Univ Sci & Technol, Xianning, PEOPLES R CHINA, F Nov 20-22, 2013 [C]. 2013.

    [3]   REN Z Y, ZHANG H, ZENG C H, et al. Performance Degradation Simulation of Electronic Product for Reliability Analysis; proceedings of the Prognostics and System Health Management Conference (PHM- Hunan), Lab Sci & Technol Integrated Logist Support, Zhangjiajie, PEOPLES R CHINA, F Aug 24-27, 2014 [C]. 2014.