2018年9月9日，电器与电子可靠性研究所在电机楼30040举行了学术报告。2018级硕士张宏宇进行了题目为《插拔磨损对于高速连接器传输性能的影响分析》的报告，研究所所长翟国富老师、徐乐老师参加了本次学术活动。

本次学术活动，张宏宇同学总结了国内外高速连接器传输性能的研究现状以及国内外对于连接器插拔磨损现象的研究现状。之后，关于该课题，分别介绍了课题的主要研究内容、研究方案以及课题的术和难点。

报告后，研究所老师和同学进行了相关的提问和讨论。翟老师针对高速连接器传输性能的评价指标进行了提问，徐老师对课题进行了相关指导。本次学术活动在愉悦的氛围中结束。