image001.jpg密封电子元器件及电子设备内部多余物问题,一直是影响航天和装备可靠性和安全性的重大技术难题。因多余物导致防务、航天领域事故已给国家造成无法估量的损失。研究所自2002年开展密封电子元器件及电子设备内部多余物研究工作以来,受国家部委工业技术基础和民用航天重点、国家部委型谱、国家自然科学基金等项目资助。经过十余年攻关,突破一系列关键技术瓶颈,取得多项自主创新性研究成果,主要技术指标居于国际领先水平。

目前,已经建立了完备的密封电子元器件及电子设备多余物检测理论体系,研制了一系列具有自主知识产权的密封电子元器件及电子设备多余物自动检测系统,提出了一种新的PIND试验规范(制定QJ标准1部、修改GJB两部),应用航天五院物质部、二院201所、203所、工信部电子四院等30余家单位,正在向全国推广应用,并于2012年获国家部委科技进步一等奖,2014年获国家部委科技进步二等奖(2014-J-24201-2),2022年国家部委科技进步一等奖

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